Встановлення середнього розміру наночастинок зразка Ag@Fe3O4 методом скануючої електронної мікроскопії

Abstract

Методом скануючої (растрової) електронної мікроскопії (SЕМ) встановлено середній розмір наночастинок зразка Ag@Fe3O4 – 23 нм, що свідчить про відсутність агломерації, оскільки срібне покриття виконує роль стабілізатора. Наночастинки Fe3O4 не мають суцільних покритих сріблом зон, а саме покриття є неоднорідним як за товщиною, так і за площею, про що свідчать яскраві зони Ag та більш темні – Fe3O4.

Методом сканирующей (растровой) электронной микроскопии (SЕМ) установлено средний размер наночастиц образца Ag@Fe3O4 - 23 нм, что свидетельствует об отсутствии агломерации, поскольку серебряное покрытие выполняет роль стабилизатора. Наночастицы Fe3O4 не имеют сплошных покрытых серебром зон, а само покрытие неоднородно как по толщине, так и по площади, о чем свидетельствуют яркие зоны Ag и более темные - Fe3O4.

The method of scanning (raster) electron microscopy (SEM) has established the average size of nanoparticles of the sample Ag@Fe3O4 - 23 nm, which indicates the lack of agglomeration, because the silver coating acts as a stabilizer. Fe3O4 nanoparticles do not have solid surface-coated zones, and the coating is heterogeneous in both thickness and area, as evidenced by the bright zones of Ag and darker – Fe3O4.